- Titre
- Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories
- Créateurs - sans rôle
- Pierre-Didier Mauroux - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- JNRDM'10 : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Montpellier, France)
- Identifiants
- 99151669809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00553935
Acte de colloque
Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories
JNRDM'10 : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Montpellier, France)
07/06/2010
Indicateurs
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