Résumé
L'étude présentée ici est une analyse des capacités de détection de pannes associées aux séquences de vecteurs adjacents, produites par deux types de générateurs intégrés. Le principe et la structure de ces deux générateurs, ainsi que l'efficacité des séquences de test produites par chacun d'eux, sont présentés. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes des modèles de collage et de pannes temporelles de chemin.