Analog Test: why still "a la mode" after more than 25 years of research?

Acte de colloque

2015 20TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS)

01/01/2015

Résumé

Computer Science

Computer Science, Hardware & Architecture

Computer Science, Software Engineering

Computer Science, Theory & Methods

Science & Technology

Technology

1 Consultations de la notice

Titre: Analog Test: why still "a la mode" after more than 25 years of research?
Créateurs - sans rôle: Florence Azais - Univ Montpellier, CNRS, LIRMM, Montpellier, France
IEEE
Détails de publication: 2015 20TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS)
Éditeur: IEEE
Nombre de pages: 1
Identifiants: 99136110209311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding