- Titre
- An SRAM Design-for-Diagnosis Solution Based on Write Driver Voltage Sensing
- Créateurs - sans rôle
- Alexandre Ney - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMagali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies FranceVincent Gouin - Infineon Technologies France
- Détails de publication
- VTS'08: VLSI Test Symposium, pp.89-94
- Colloque
- VTS'08: VLSI Test Symposium (San Diego, CA, USA, 01/05/2008)
- Identifiants
- 9945758709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00281558
Acte de colloque
An SRAM Design-for-Diagnosis Solution Based on Write Driver Voltage Sensing
VTS'08: VLSI Test Symposium, pp.89-94
VTS'08: VLSI Test Symposium (San Diego, CA, USA, 01/05/2008)
27/04/2008
Indicateurs
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