- Titre
- An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories
- Créateurs - sans rôle
- Olivier Ginez - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMJean-Michel DagaMarylène CombePatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- VTS'06: VLSI Test Symposium, pp.108-113
- Colloque
- VTS'06: VLSI Test Symposium (Berkeley, CA, United States, 30/04/2006–04/05/2006)
- Identifiants
- 9944455809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00102761
Acte de colloque
An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories
VTS'06: VLSI Test Symposium, pp.108-113
VTS'06: VLSI Test Symposium (Berkeley, CA, United States, 30/04/2006–04/05/2006)
2006
Indicateurs
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