- Titre
- An Efficient Scan Tree Design for Test Time Reduction
- Créateurs - sans rôle
- Yannick Bonhomme - Nara Institute of Science and TechnologyTomohiro Yoneda - Nara Institute of Science and TechnologyHideo Fujiwara - Nara Institute of Science and TechnologyPatrick Girard - Université de Montpellier
- Détails de publication
- 9th IEEE European Test Symposium, pp.174-179
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Ajaccio, Corsica, France, 23/05/2004–26/05/2004)
- Identifiants
- 9934377109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108901
Acte de colloque
An Efficient Scan Tree Design for Test Time Reduction
9th IEEE European Test Symposium, pp.174-179
ETS: European Test Symposium (Ajaccio, Corsica, France, 23/05/2004–26/05/2004)
2004
Indicateurs
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