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Affiche : "Characterization of PECVD thin films by ellipsometric porosimetry"
Acte de colloque

Affiche : "Characterization of PECVD thin films by ellipsometric porosimetry"

V. Rouessac, R. Coustel et J. Durand
GDR "TEMPS" (Nantes, France, 2005)
2005

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