- Titre
- Advances in electric charge measurements in semi-conducting structures by non-destructive thermal methods
- Créateurs - sans rôle
- Sylvain Baudon - Université de MontpellierPetru Jr. Notingher - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESSerge Agnel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESStéphane Holé - Laboratoire de Physique et d’Étude des Matériaux
- Colloque
- 2014 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (Vancouver, France, 05/10/2014–09/10/2014)
- Identifiants
- 9946278609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01762827
Acte de colloque
Advances in electric charge measurements in semi-conducting structures by non-destructive thermal methods
2014 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (Vancouver, France, 05/10/2014–09/10/2014)
Indicateurs
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