A high accuracy triangle-wave signal generator for on-chip ADC testing

Serge Bernard; Florence Azaïs; Yves Bertrand; Michel Renovell

doi:10.1109/ETW.2002.1029644

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Acte de colloque

A high accuracy triangle-wave signal generator for on-chip ADC testing

Serge Bernard, Florence Azaïs, Yves Bertrand et Michel Renovell

ETW 2002 - 7th IEEE European Test Workshop, pp.89-94

ETW 2002 - 7th IEEE European Test Workshop (Corfu, Greece, 26/05/2002–29/05/2002)

2002

DOI: https://doi.org/10.1109/ETW.2002.1029644

Résumé

A general BIST architecture for A-to-D converters involves the integration of both an analog test signal generator and a digital output response analyzer. This paper presents a structure for the internal generation of a linear signal used with the histogram-based test technique. The structure is based on two highly linear ramp generators together with a feedback control circuitry. Results show that the proposed structure preserves the linearity of the ramp generators while accuracy of the triangle-wave is provided by means of a calibration scheme.

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Détails

Titre: A high accuracy triangle-wave signal generator for on-chip ADC testing
Créateurs - sans rôle: Serge Bernard - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Yves Bertrand - Université de Montpellier
Michel Renovell - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Détails de publication: ETW 2002 - 7th IEEE European Test Workshop, pp.89-94
Colloque: ETW 2002 - 7th IEEE European Test Workshop (Corfu, Greece, 26/05/2002–29/05/2002)
Identifiants: 9942874609311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: lirmm-00268483