- Titre
- A Statistical Simulation Method for Reliability Analysis of SRAM Core-Cells
- Créateurs - sans rôle
- Renan Alves Fonseca - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNabil Badereddine - Infineon Technologies France
- Détails de publication
- 47th Design Automation Conference, pp.853-856
- Colloque
- DAC: Design Automation Conference (Anaheim, United States, 13/06/2010)
- Identifiants
- 99151668909311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00553619
Acte de colloque
A Statistical Simulation Method for Reliability Analysis of SRAM Core-Cells
47th Design Automation Conference, pp.853-856
DAC: Design Automation Conference (Anaheim, United States, 13/06/2010)
13/06/2010
Indicateurs
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