- Titre
- A Simulator of Small-Delay Faults Caused by Resistive-Open Defects
- Créateurs - sans rôle
- Alejandro Czutro - University of FreiburgNicolas Houarche - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMPiet Engelke - University of FreiburgIlia Polian - University of FreiburgMariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBernd Becker - University of Freiburg
- Détails de publication
- 13th IEEE European Test Symposium, pp.113-118
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Verbania, Italy, 29/05/2008)
- Identifiants
- 9945137609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00285886
Acte de colloque
A Simulator of Small-Delay Faults Caused by Resistive-Open Defects
13th IEEE European Test Symposium, pp.113-118
ETS: European Test Symposium (Verbania, Italy, 29/05/2008)
25/05/2008
Indicateurs
1 Consultations de la notice