Résumé
A methodology is proposed to perform statistical analysis of radiation test data of memories searching for trends in the error distribution. The treated case study is a 65nm SRAM irradiated with neutrons, protons and heavy-ions.
- Titre
- A Methodology for the Analysis of Memory Response to Radiation through Bitmap Superposition and Slicing
- Créateurs - sans rôle
- Alexandre Louis Bosser - Université de MontpellierViyas Gupta - Institut d'Électronique et des SystèmesGeorgios Tsiligiannis - Cypress Semiconductor Corporation (United States)Rudy Ferraro - Université de MontpellierChristopher Frost - European Space Research and Technology CentreAli MohammadzadehArto Javanainen - University of JyväskyläHelmut Puchner - Rutherford Appleton LaboratoryMario RossiFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAri Virtanen - University of JyväskyläFrédéric Wrobel - Institut d'Électronique et des SystèmesLuigi Dilillo - Université de Montpellier
- Détails de publication
- 15th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
- Colloque
- RADECS: Radiation and Its Effects on Components and Systems (Moscou, Russia, 14/09/2015–18/09/2015)
- Identifiants
- 9942612509311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-01238397