- Titre
- A Memory Fault Simulator for Radiation-Induced Effects in SRAMs
- Créateurs - sans rôle
- Paolo Rech - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 19th IEEE Asian Test Symposium, pp.100-105
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (Shanghai, China, 2010)
- Identifiants
- 9947114409311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00545102
Acte de colloque
A Memory Fault Simulator for Radiation-Induced Effects in SRAMs
19th IEEE Asian Test Symposium, pp.100-105
ATS: Asian Test Symposium (Shanghai, China, 2010)
01/12/2010
Indicateurs
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