- Titre
- A Fault-Simulation-Based Approach for Logic Diagnosis
- Créateurs - sans rôle
- Youssef Benabboud - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 4th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, pp.216-221
- Colloque
- DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (Cairo, Egypt, 10/04/2009)
- Identifiants
- 9944396209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00371377
Acte de colloque
A Fault-Simulation-Based Approach for Logic Diagnosis
4th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, pp.216-221
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (Cairo, Egypt, 10/04/2009)
06/04/2009
Indicateurs
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