- Titre
- A Digital Model of SRAM for Test
- Créateurs - sans rôle
- Dorian Ronga - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsPatrick Girard - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsArnaud Virazel - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
- Colloque
- SETS 2025 - South European Test Seminar (Passo del Tonale, Italy, 24/03/2025–28/03/2025)
- Identifiants
- 99208117709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- Anglais
- Type de ressource
- Acte de colloque
- Champs locaux
- lirmm-05568608
Acte de colloque
A Digital Model of SRAM for Test
SETS 2025 - South European Test Seminar (Passo del Tonale, Italy, 24/03/2025–28/03/2025)
Indicateurs
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