- Titre
- A DfT Solution for Oxide Thickness Varitions in ATMEL eFlash Technology
- Créateurs - sans rôle
- Pierre-Didier Mauroux - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBenoît Godard - Atmel CorporationGilles Feste - Atmel CorporationLaurent Vachez - Atmel Corporation
- Colloque
- DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (Athènes, Greece, 2011)
- Identifiants
- 9942189709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00647750
Acte de colloque
A DfT Solution for Oxide Thickness Varitions in ATMEL eFlash Technology
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (Athènes, Greece, 2011)
01/04/2011
Indicateurs
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