- Titre
- A Comprehensive System-on-Chip Logic Diagnosis
- Créateurs - sans rôle
- Youssef Benabboud - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesOlivia Riewer - STMicroelectronics [Crolles]
- Détails de publication
- 19th IEEE Asian Test Symposium, pp.237-242
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (Shanghai, China, 2010)
- Identifiants
- 9946818409311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00545131
Acte de colloque
A Comprehensive System-on-Chip Logic Diagnosis
19th IEEE Asian Test Symposium, pp.237-242
ATS: Asian Test Symposium (Shanghai, China, 2010)
01/12/2010
Indicateurs
1 Consultations de la notice