- Titre
- A Comparative Analysis of Indirect Measurement Selection Strategies for Analog/RF Alternate Testing
- Créateurs - sans rôle
- Syhem Larguech - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Bernard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesVincent Kerzérho - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- 3rd IEEE International Workshop on Test and Validation of High Speed Analog Circuits (Anaheim, CA, United States, 12/09/2013–13/09/2013)
- Identifiants
- 9942370209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00985422
Acte de colloque
A Comparative Analysis of Indirect Measurement Selection Strategies for Analog/RF Alternate Testing
3rd IEEE International Workshop on Test and Validation of High Speed Analog Circuits (Anaheim, CA, United States, 12/09/2013–13/09/2013)
2013
Indicateurs
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