- Titre
- 60 GHz Active Microscopy With A Bow-Tie Antenna As Near-Field Probe
- Créateurs - sans rôle
- Rachid Omarouayache - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLaurent Chusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESPierre Payet - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérémy Raoult - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESSylvie Jarrix - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (Pise, Italy, 11/05/2015)
- Publications en série
- Proceedings, 32nd IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC 2015) : Pisa, Italy, May 11-14, 2015
- Identifiants
- 9942432609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01891549
Acte de colloque
60 GHz Active Microscopy With A Bow-Tie Antenna As Near-Field Probe
Proceedings, 32nd IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC 2015) : Pisa, Italy, May 11-14, 2015
IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (Pise, Italy, 11/05/2015)
Indicateurs
1 Consultations de la notice