Abstract
Les mémoires non-volatiles et plus spécialement les mémoires Flash sont de plus en plus utilisées dans le contexte SoC. Cet article présente une étude préliminaire des mécanismes de défaillances pouvant affecter les mémoires Flash NAND.
- Title
- Test des Mémoires FLASH NAND
- Creators - without role
- Pierre-Didier Mauroux - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Conference
- Colloque GDR SoC-SiP (France)
- Identifiers
- 9943781709311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- French
- Resource Type
- Conference poster
- Local Fields
- lirmm-00433770