Abstract
TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction
- Title
- TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction
- Creators - without role
- Julien Dalmasso - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMMarie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Publication Details
- ETS: European Test Symposium, pp.241-246
- Conference
- ETS: European Test Symposium (Freiburg, Germany, 20/05/2007–24/05/2007)
- Identifiers
- 9942334009311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Conference poster
- Local Fields
- lirmm-00159044