- Title
- Structural Power-Aware Assignment of Xs for Peak Power Reduction during Scan Testing
- Creators - without role
- Christian Landrault - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNabil Badereddine - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMHans-Joachim Wunderlich - University of Stuttgart
- Conference
- ETS: European Test Symposium (Southampton, United Kingdom, 21/05/2006–25/05/2006)
- Identifiers
- 9941771309311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Conference poster
- Local Fields
- lirmm-00134781
Conference poster
Structural Power-Aware Assignment of Xs for Peak Power Reduction during Scan Testing
ETS: European Test Symposium (Southampton, United Kingdom, 21/05/2006–25/05/2006)
05/2006
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