Abstract
Ce papier présente une méthode d'évaluation de vieillissement pour les circuits reconfigurables. Cette méthode est basée sur l'utilisation des émanations électromagnétiques pour caractériser le composant entre les différentes périodes de vieillissement accéléré réalisées à l'aide d'un stress en tension et en température du composant. Des résultats d'expérimentation menés sur un circuit reconfigurable de type Spartan-6 (45 nm) sont également proposés et permettent de valider cette méthode.