- Title
- Resistive Open Defect Analysis for Through-Silicon-Vias
- Creators - without role
- Carolina Momo Metzler - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMAida Todri-Sanial - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Conference
- ETS: European Test Symposium (Annecy, France, 28/05/2012–01/06/2012)
- Identifiers
- 9942792109311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Conference poster
- Local Fields
- lirmm-00806795
Conference poster
Resistive Open Defect Analysis for Through-Silicon-Vias
ETS: European Test Symposium (Annecy, France, 28/05/2012–01/06/2012)
2012
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