- Title
- MBE growth and characterization of InN/InGaN thin films and nanostructures on GaN templates and Si(111) substrates.
- Creators - without role
- Steven Albert - Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y MicrotecnologíaJ. Grandal - Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y MicrotecnologíaM.A. Sanchez-Garcia - Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y MicrotecnologíaPierre Lefebvre - Laboratoire Charles CoulombJ. Ristic - Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y MicrotecnologíaE. Calleja - Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y MicrotecnologíaArantxa Vilalta-Clemente - Centre de Recherche sur les Ions, les Matériaux et la PhotoniqueBertrand Lacroix - Centre de Recherche sur les Ions, les Matériaux et la PhotoniquePierre Ruterana - Centre de Recherche sur les Ions, les Matériaux et la PhotoniqueE. Luna - Paul-Drude-Institut für FestkörperelektronikUwe Jahn - Paul-Drude-Institut für FestkörperelektronikA. Trampert - Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik
- Conference
- 16th International Conference on Molecular Beam Epitaxy (MBE 2010) (Berlin, Germany, 22/08/2010–27/08/2010)
- Identifiers
- 9942119009311
- Academic Unit
- Laboratoire Charles Coulomb - L2C
- Language
- English
- Resource Type
- Conference poster
- Local Fields
- hal-00633522
Conference poster
MBE growth and characterization of InN/InGaN thin films and nanostructures on GaN templates and Si(111) substrates.
16th International Conference on Molecular Beam Epitaxy (MBE 2010) (Berlin, Germany, 22/08/2010–27/08/2010)
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