Logic Errors in CMOS Circuits due to Simultaneous Switching Noise

Conference poster

Florence Azaïs, Laurent Larguier and Michel Renovell

ETS: European Test Symposium, pp.59-64

ETS: European Test Symposium (Freiburg, Germany, 20/05/2007–24/05/2007)

2007

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Title: Logic Errors in CMOS Circuits due to Simultaneous Switching Noise
Creators - without role: Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Laurent Larguier - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Michel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Publication Details: ETS: European Test Symposium, pp.59-64
Conference: ETS: European Test Symposium (Freiburg, Germany, 20/05/2007–24/05/2007)
Identifiers: 9944807009311
Academic Unit: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Language: English
Resource Type: Conference poster
Local Fields: lirmm-00154744