- Title
- Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough?
- Creators - without role
- Fangmei Wu - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMohammad Tehranipoor - University of ConnecticutKohei Miyase - Kyushu Institute of TechnologyXiaoqing Wen - Kyushu Institute of TechnologyNisar Ahmed - Texas Instrument
- Conference
- ITC'2010: International Test Conference (Austin, Texas, United States, 02/11/2010–04/11/2010)
- Identifiers
- 9946258909311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Conference poster
- Local Fields
- lirmm-00537926
Conference poster
Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough?
ITC'2010: International Test Conference (Austin, Texas, United States, 02/11/2010–04/11/2010)
2010
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