- Title
- Fault-Effect Propagation Based Intra-cell Scan Chain Diagnosis
- Creators - without role
- Zhenzhou Sun - STMicroelectronics [Grenoble]Alberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAida Todri-Sanial - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesEtienne Auvray - STMicroelectronics [Grenoble]
- Conference
- Colloque GDR SoC-SiP (Lyon, France, 10/06/2013–12/06/2013)
- Identifiers
- 9944060309311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Conference poster
- Local Fields
- lirmm-00839113
Conference poster
Fault-Effect Propagation Based Intra-cell Scan Chain Diagnosis
Colloque GDR SoC-SiP (Lyon, France, 10/06/2013–12/06/2013)
2013
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