Résumé
Les dispositifs électroniques utilisés dans de nombreux systèmes spatiaux, militaires, accélérateurs et centrales nucléaires peuvent être exposés à la dose ionisante totale. Ils sont omniprésents dans le domaine du démantèlement nucléaire et doivent être qualifiés. Le cobalt 60 est la source de rayonnement la plus couramment utilisée pour tester la dose ionisante totale des composants électroniques. Afin d'effectuer des tests de DIT au niveau du système (pour une carte électronique ou un système entier) ou pour le dépistage, nous proposons l'utilisation d'un générateur de rayons X à haute énergie avec une tension allant jusqu'à 320 kV permettant d'obtenir des photons jusqu'à 320 keV. En raison de leur spectre continu, les rayons X ont des photons de faible énergie avec un effet photoélectrique. Les photons de faible énergie ont une faible profondeur de pénétration mais ont un impact significatif sur la dose absorbée en raison de la variabilité des coefficients d'absorption de l'énergie massique en fonction du numéro atomique Z des matériaux. Ces conditions sont loin d'être optimales pour les essais de composants, où l'objectif est d'obtenir une profondeur de pénétration élevée et un dépôt d'énergie qui ne dépend pas du numéro atomique Z du matériau. C'est la raison pour laquelle nous avons décidé de couper les photons de faible énergie. Cette coupure est réalisée à l'aide d'un filtre en plomb, qui a été simulé avec le modèle TASMICS. Afin d'apporter des éléments de réponse, deux références de composants électroniques génériques MOSFETs ont été irradiées dans 3 conditions : irradiation au 60-Co, irradiation aux rayons X avec filtre Al, et irradiation aux rayons X avec filtre Al + Pb.