- Titre
- Using the SEEM software for SET testing and analysis
- Créateurs - sans rôle
- Vincent Pouget - Laboratoire de l'intégration, du matériau au systèmePascal Fouillat - Laboratoire de l'Intégration du Matériau au SystèmeDean Lewis - Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système
- Détails de publication
- Radiation Effects on Embedded Systems, pp.259-268
- Éditeur
- Springer
- Identifiants
- 99162127809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Book chapter
Chapitre d'ouvrage
Using the SEEM software for SET testing and analysis
Radiation Effects on Embedded Systems, pp.259-268
Springer
2007
Indicateurs
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