- Title
- "Principes de base de réflectométrie X et application à l'analyse de porosité"
- Creators - without role
- A. van Der Lee - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
- Contributors - without role
- A. AYRAL, V. ROUESSAC
- Publication Details
- Techniques innovantes pour la caractérisation optique microstructurale de couches minces, pp.73-98
- Identifiers
- 9942273909311
- Academic Unit
- Institut Européen des Membranes - IEM
- Language
- French
- Resource Type
- Book chapter
- Local Fields
- hal-00162710
Book chapter
"Principes de base de réflectométrie X et application à l'analyse de porosité"
Techniques innovantes pour la caractérisation optique microstructurale de couches minces, pp.73-98
2006
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