- Titre
- Measuring dielectric properties at the nanoscale using Electrostatic Force Microscopy
- Créateurs - sans rôle
- Richard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESC. Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESGustavo A. Schwartz - University of the Basque CountryGérard Leveque - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESA. Alegria - Donostia International Physics CenterPhilippe Tordjeman - Institut de Mécanique des Fluides de ToulouseN. E. Israeloff - Northeastern University [Boston]Michel Ramonda - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Colmenero - Donostia International Physics Center
- Détails de publication
- Microscopy: Science, Technology, Applications and Education. (FORMATEX Microscopy Book Series ; n° 4). A. Méndez-Vilas and J. Díaz (Eds.)p 1963-1977
- Identifiants
- 99152243709311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Book chapter
- Champs locaux
- hal-01791128
Chapitre d'ouvrage
Measuring dielectric properties at the nanoscale using Electrostatic Force Microscopy
Microscopy: Science, Technology, Applications and Education. (FORMATEX Microscopy Book Series ; n° 4). A. Méndez-Vilas and J. Díaz (Eds.)p 1963-1977
2010
Indicateurs
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