Basics of Metrology and Introduction to Techniques

Chapitre d'ouvrage

Full‐Field Measurements and Identification in Solid Mechanics, pp.1-30

John Wiley & Sons, Inc

29/04/2013

Résumé

holography

interferometric measurements

metrology

sensitivity vectors

spatial resolution

white light techniques

Introduction Terminology: International Vocabulary of Metrology Spatial Aspect Classification of Optical Measurement Techniques Bibliography

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Titre: Basics of Metrology and Introduction to Techniques
Créateurs - sans rôle: André Chrysochoos
Yves Surrel
Contributeurs - sans rôle: Michel Grédiac
François Hild
André Pineau
Détails de publication: Full‐Field Measurements and Identification in Solid Mechanics, pp.1-30
Éditeur: John Wiley & Sons, Inc; Hoboken, NJ USA
Nombre de pages: 30
Identifiants: 99158829909311
Unité académique: Laboratoire de Mécanique et Génie Civil - LMGC
Langue: English
Type de ressource: Book chapter