- Titre
- International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS 2006)
- Créateurs - sans rôle
- Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMohamed Masmoudi - Département de Génie Électrique de Sfax [ENIS]Jaouhar Mouine - National Engineering School of Tunis
- Colloque
- Tunis, Tunisia
- Identifiants
- 0-7803-9726-6; 99153598409311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Book
- Champs locaux
- lirmm-00136926
Ouvrage
International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS 2006)
Tunis, Tunisia
2006
Indicateurs
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